金属材料基礎講座-192

　分光干渉とは測定元素の発光スペクトルが別の元素の発光スペクトルに影響されることです。多くのICP-AESでは多元素同時測定が行われているので、分光干渉を完全になくすことは出来ません。分光干渉の種類としては、1．ベースとなるバックグラウンドが変化すること、2．発光スペクトルが重なっているまたは極めて近いことなどがあります。それぞれの模式図を図1に示します。

　1のバックグラウンドの変化はベースラインを計算することで補正が出来ます。2の発光スペクトルの重なりを補正する計算もありますが、分光干渉を起こさない別の発光スペクトルを選択する方が良いです。分光干渉では装置の分光器を高分解能、高性能化によって改善できることも大きいです。